6 copy
ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) প্রতিনিধি ।
ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) ‘ঘ’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির অভিযোগে ১২ পরীক্ষার্থীকে কারাদণ্ড দিয়েছে ভ্রাম্যমাণ আদালত। খবর ক্রাইম রিপোর্টার ২৪.কমের।
ঢাকা জেলা প্রশাসন থেকে পাঠানো এক প্রেস বিজ্ঞপ্তিতে বিষয়টি জানা গেছে।

মাস্টারকার্ডের মত ইলেক্ট্রনিক ডিভাইসে সিম কার্ড ঢুকিয়ে কেন্দ্রের বাইরে যোগাযোগ করে উত্তর সংগ্রহের সময় তাদেরকে হাতে নাতে ধরা হয়। কানে ঢুকানো ছিল অতিক্ষুদ্র তারবিহীন হেডফোন। ঢাকা জেলা প্রশাসনের পক্ষে ভ্রাম্যমাণ আদালত পরিচালনা করেন নির্বাহী ম্যাজিস্ট্রেট তৌহীদ এলাহী। ভ্রাম্যমাণ আদালতের মাধ্যমে প্রত্যেককে এক মাস করে বিনাশ্রম কারাদণ্ড দেয়া হয়।
সাজাপ্রাপ্তরা হলেন- কিশোরগঞ্জের ইশ্তিয়াক আহমেদ, গাইবান্ধার আব্দুল্লাহ আল মুকিম ও মোহাম্মমদ রিশাদ কবির, পাবনার মিরাজ আহমেদ, বগুড়ার জয় সাহা, কুমিল্লার নূর মোহাম্মদ মাহবুব , রেজোয়ানা শেখ শোভা ও মাসুকা নাসরিন রোজা, ময়মনসিংহের তারিকুল ইসলাম, রংপুরের নাসিরুল হক নাহিদ, ফরদপুরের এম ডি ফারহাতুল আলম রাফি ও নাটোরের মো. মিনারুল।

ভ্রাম্যমাণ আদালত পরিচালনার সময় উপস্থিত ছিলেন ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয় প্রক্টর অধ্যাপক ড. এ এম আমজাদ, সহকারী প্রক্টর মো. সোহেল রানা, ড. এ কে লুতফুল কবীর, অধ্যাপক মাইনুল ইসলাম, অধ্যাপক রবিউল ইসলাম।
খবর ক্রাইম রিপোর্টার ২৪.কমের।

http://crimereporter24.com/wp-content/uploads/2017/10/6-copy6.jpghttp://crimereporter24.com/wp-content/uploads/2017/10/6-copy6-300x300.jpgশুভ সমরাটপ্রথম পাতা
ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) প্রতিনিধি । ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) ‘ঘ' ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির অভিযোগে ১২ পরীক্ষার্থীকে কারাদণ্ড দিয়েছে ভ্রাম্যমাণ আদালত। খবর ক্রাইম রিপোর্টার ২৪.কমের। ঢাকা জেলা প্রশাসন থেকে পাঠানো এক প্রেস বিজ্ঞপ্তিতে বিষয়টি জানা গেছে। মাস্টারকার্ডের মত ইলেক্ট্রনিক ডিভাইসে সিম কার্ড ঢুকিয়ে কেন্দ্রের বাইরে যোগাযোগ করে উত্তর সংগ্রহের...